Bench mike 283系列高精度激光測徑儀

--測量精度更高，測量速度更快

高質(zhì)量的測量是測量儀表、測量方法及測試人員有機(jī)配合的整體。與傳統(tǒng)的接觸式外形幾何尺寸測量儀表比較，bench mike中采用了激光非接觸測量有理，對原始測量數(shù)據(jù)自動采集、處理、數(shù)字顯示等技術(shù)，降低了由于測量方法及測量人員造成的誤差。從而提高了整個(gè)測量的精度。在某些工業(yè)應(yīng)用場合中，如產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)中，單位時(shí)間內(nèi)須完成大量的測量。此時(shí)，在兼顧測量精度的同時(shí)，對測量速度提出了更高的要求。Bench mike提供了高速dsp核心處理單元，友好界面的顯示控制軟件及多種接口用于數(shù)據(jù)及通訊，將使用者從繁重的測量中解放出來。

總之，bench mike不僅是測量中心，還是一測量數(shù)據(jù)處理品中心，也是一測量數(shù)據(jù)交換中心。其具備的強(qiáng)大功能保證了其可應(yīng)用于于廣泛的領(lǐng)域，同時(shí)也使測量更加簡單，特別需要指出的是對于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統(tǒng)接觸測量束手無策的被測量任務(wù)，bench mike可提供滿意的測量。

測量原理

采用激光掃描原理進(jìn)行測量，激光發(fā)生裝置產(chǎn)生的激光，照射在馬達(dá)驅(qū)動的高速旋轉(zhuǎn)棱鏡上，通過發(fā)射透鏡組在測試區(qū)間中形成標(biāo)準(zhǔn)掃描平行光束，測試區(qū)間中的被測量物體遮擋光束形成的陰影，會在光電收集端形成信號的階躍，階躍寬度及位置決定了被測量物體的直徑及在測試區(qū)間位置值等參數(shù)。

優(yōu)點(diǎn)

■測量精度高，測量速度快。使本儀表可滿足不同測量應(yīng)用領(lǐng)域

■豐富的測量模式滿足不同的測量應(yīng)用。

■采用了全新數(shù)據(jù)處理技術(shù)，圖形用戶交互界面、快捷按鍵的使用使測量更直觀、操作更便利。

■內(nèi)含測量應(yīng)用庫及自編輯被測量功能，配合專門設(shè)計(jì)的夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測量擴(kuò)充能力。

■單點(diǎn)及雙點(diǎn)自校準(zhǔn)功能減少了使用條件的變化對測量的影響，使儀表的維護(hù)更方便。

Bench mike 283系列性能指標(biāo)

注：*此數(shù)據(jù)的獲得是通過連續(xù)90次測量值中的大變化值得出。單次測量值的獲得是取200次單次掃描測量值的平均值，測試時(shí)在測試區(qū)間的環(huán)境變化應(yīng)足夠的小（小和空氣對流，小的溫度變化），測試中采用了低膨脹標(biāo)準(zhǔn)件，在測量中標(biāo)準(zhǔn)保持不變。

**線性度誤差在出廠前獲得，測量時(shí)環(huán)境溫度為68of，相對溫度為50%。測試時(shí)在測試區(qū)間的環(huán)境變化應(yīng)足夠的小（小和空氣對流，小的溫度變化），測試中采用了低膨脹標(biāo)準(zhǔn)件，在測量中標(biāo)準(zhǔn)保持不變。

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